Document d'archives : FACE 1
. Suite de l'intervention de M. NAUDIN (cf art.45 Face 1), sur l'exploitation des plaques photographiques en...

Institution de conservation :

Archives nationales

Title:

FACE 1
. Suite de l'intervention de M. NAUDIN (cf art.45 Face 1), sur l'exploitation des plaques photographiques en spectrométrie de masse à étincelle avec utilisation de l'analyse d'images.
- Description d'un spectromètre de masse à étincelles
- Techniques utilisées et possibilités offertes
- Caractéristiques essentielles d'un spectromètre de masse
- Lecture de la plaque photographique
- Spectre de référence
. Transfert
. Grahisme
. Consultation de spectre
- Amélioration du système en fonction des habitudes de travail des gens
- Exemples de visualisations réalisées
. Intervention de M. FAVIER, CEA /CENG/CLETI, Grenoble, sur un travail effectué en collaboration avec une équipe de Grenoble : " Système d'analyse automatique des défauts en imagerie "
Ce travail a porté sur :
- L'élaboration d'une chaîne complète de traitement d'images depuis l'acquisition des images
- Le système de décision d'aceptation ou de rejet des pièces
- La lecture de défauts sur des radiographies
M. FAVIER a traité dans son intervention :
- du Dispositif de l'acquisition d'images
- de la correction d'images
- du traitement des images necessaires à la détection de paramètres de défauts
- des résultats statistiques sur une application particulière : analyse des défauts sur les soudures et bouchons sur les aiguilles de combustible pour les réacteurs nucléaires
. Questions posées à M. FAVIER
- Sur le temps de repérage d'un défaut
- Sur le problème d'archivage des données et la sécurité de ladétection
- Sur l'écran utilisé
FACE 2
. Suite des questions posées à M. FAVIER
- Sur le taux de rejet du système
- Sur la fluctuation des rayonnements X dans le temps
. Intervention de M. HERNANDEZ du CEA (commissariat à l'Energie Atomique), toujours sur la détection et la mesure de défauts metalliques partir d'images radiographiques.
- Problème rencontré par la détection de défauts matière sur des objets fabriqués par moulage et usinés
- Travaux effectués sur les radiographies :
. Le générateur
. L'objet ou les objets à contrôler
. Le film
- La détection du défaut
- Le seuillage effectué (séparation de la partie saine et de la partie altérée)
- Méthode itérative utilisée à partir de la bipolarité précédente
- Résultats obtenus ; rangement des taches
. Questions posées à M. HERNANDEZ
- Sur la distance source-film, objet-film
- Sur le temps de calcul
. Intervention de M. HENRIOUD du l'ENSSMM, Besançon sur l'inspection de surfaces planes par vision artificielle et l'application de ce système à l'inpection de planches de bois
Approche utilisée pour réduire ce fonds d'informations :
- Présentation de la méthode utilisée du système de seuillage adaptatif
- Présentation de la structure d'exploitation
- Méthodes utilisées : emploi d'un seuil constant et dérivé filtré
- Résultats obtenus
. Question posées à M. HENRIOUD sur les expériences pratiques réalisées et les vitesses de limites
. Intervention de M. EPELBOIN, de l'Université de Paris VI, sur le repérage de défauts dans des matériaux cristallins : "Simulation d'images en topographie aux rayons X"
- Explication du principe des méthodes utilisées : rang et limites de la méthode
- Problème de la simulation : méthode de représentation de résultats d'images de rayons X
- Applications effectuées

Identifiant de l'unité documentaire :

19960297/1-19960297/61 - 19960297/46

Type de document :